[实用新型]一种钥匙按键的耐久性测试治具有效

专利信息
申请号: 202222003698.5 申请日: 2022-08-01
公开(公告)号: CN217786531U 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 陈瑞青;李家兴;朱鹏 申请(专利权)人: 天津森普捷电子有限公司
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00;G01R31/327
代理公司: 北京众辉津成知识产权代理事务所(普通合伙) 16108 代理人: 王文峰
地址: 301799 天津市*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型公开了一种钥匙按键的耐久性测试治具,支撑机构包括底板,底板的顶面上设置有呈矩形状分布的支撑柱,四个支撑柱的顶面上固定的设置有顶板;限位机构设置于底板的顶面上,用于对钥匙进行限位固定;测试按压机构设置于顶板的下方,用于对钥匙上的按键进行按压测试;驱动机构设置于顶板的顶面上,用于驱动测试按压机构上下升降移动对钥匙上的按键进行耐久性测试。本实用新型的钥匙按键的耐久性测试治具,通过设置的测试按压机构,可以同时对多个钥匙上的按键或者一个钥匙上的多个按键进行测试,测试效率高;另外,设置的驱动气缸代替手工按压,减少人工成本,通过设置按压次数,提高数据的准确率;整个测试治具测试效率高,实用性强。
搜索关键词: 一种 钥匙 按键 耐久性 测试
【主权项】:
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