[实用新型]一种光学薄膜加工用的厚度检测装置有效
| 申请号： | 202221258395.1 | 申请日： | 2022-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN217687159U | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 黄军;汪洋;周慧;李文;汪森 | 申请（专利权）人： | 深圳市楠轩光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 北京市浩东律师事务所 11499 | 代理人： | 孙莉 |
| 地址： | 518111 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，包括支撑台，所述支撑台的顶端固定有橡胶垫，所述支撑台顶端的两侧均固定有定位结构，所述定位结构包括侧板，所述侧板均固定于支撑台顶端的两侧，所述侧板一侧的顶端固定有横板，且横板的内部设置有预留孔，所述预留孔的内部设置有拉杆，所述支撑台顶部的一端固定有支架，且支架的内部安装有升降机构，所述背板的另一端固定有连接块。本实用新型通过设置有定位结构，定位时，通过向上拉动拉杆，拉杆带动压板上移挤压弹簧，之后将薄膜的一边平铺在压板的下方，缓慢松开拉杆，压板会通过弹簧下移对薄膜进行定位，通过上述方式对薄膜的另一边进行定位，提高了定位时的平整性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学薄膜 工用 厚度 检测 装置 | ||
【主权项】：
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