[实用新型]集成电路外观检测装置有效
| 申请号： | 202221220899.4 | 申请日： | 2022-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN217688507U | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 吴利俊 | 申请（专利权）人： | 日月新半导体（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/956 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 215021 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种集成电路外观检测装置。所述集成电路外观检测装置包括接收部。所述接受部包括接收端子及缓冲件。所述缓冲件设置在所述接收端子之上。所述缓冲件缓冲件上开设有承载区域，所述承载区域经配置以接收集成电路产品。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 外观 检测 装置 | ||
【主权项】：
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