[实用新型]相控阵天线测试系统有效
| 申请号： | 202221215759.8 | 申请日： | 2022-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN218767124U | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 陈宇钦;何丽华;张佳莺;袁国强;王琳 | 申请（专利权）人： | 苏州益谱电磁科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R1/04;G01R1/18 |
| 代理公司： | 昆山中际国创知识产权代理有限公司 32311 | 代理人： | 尤天珍 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种相控阵天线测试系统，包括微波暗室、多轴被测物转台、线性滑轨、多轴机械臂、探头、控制系统和数据处理单元，所述多轴被测物转台和多轴机械臂分别安装于微波暗室的两侧，被测天线安装于多轴被测物转台上，多轴被测物转台能够带动被测天线分别绕两个相互垂直的转轴转动，所述探头安装在多轴机械臂上，多轴机械臂能够带动探头在微波暗室的三维空间内任意运动，本实用新型可实现对相控阵天线的球面近场测试、柱面近场测试、平面近场测试、以及阵子单元的标校测试等，适用于任意曲面形状的相控阵天线。 | ||
| 搜索关键词： | 相控阵 天线 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州益谱电磁科技有限公司，未经苏州益谱电磁科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202221215759.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
