[实用新型]一种间歇寿命试验系统有效
| 申请号： | 202221061610.9 | 申请日： | 2022-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN217718000U | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 马云龙;程莹 | 申请（专利权）人： | 辇芯（天津）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300308 天津市滨海新区自贸试*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开一种间歇寿命试验系统。所述间歇寿命试验系统包括支撑组件、芯片、电源、测试机和间歇组件，芯片定位于支撑组件，电源和测试机均与芯片电连接，间歇组件包括凸轮和按压组件，凸轮可升降、可转动地设置于支撑组件，按压组件包括连动板和压板，连动板与凸轮的轮廓活动连接，压板可升降地设置于支撑组件，压板与连动板固定连接，压板能够按压电源的启闭按钮。凸轮转动，带动连动板升降，进而带动压板升降，从而使得压板间歇性、有规律地触发电源的启闭按钮，以实现对芯片的有规律地、间歇地通电和断电，测试机能够得到芯片的间歇寿命。间歇组件的设置，可避免因人工操作带来的误差，保证了试验的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 间歇 寿命 试验 系统 | ||
【主权项】：
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