[实用新型]一种IC开短路测试装置有效

专利信息
申请号: 202220544994.3 申请日: 2022-03-14
公开(公告)号: CN217467085U 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 彭海东;穆云飞 申请(专利权)人: 南京矽邦半导体有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/50
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 210000 江苏省南京市浦*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了半导体元件测试技术领域的一种IC开短路测试装置,包括继电器组和用于连接测试机的牛角插座;所述继电器组包括第一继电器和第二继电器;所述第一继电器包括第一常闭端a1、第一常闭端a2、第一连接端b1、第一连接端b2、第一常开端c1和第一常开端c2;所述第二继电器包括第二常闭端a3、第二常闭端a4、第二连接端b3、第二连接端b4、第二常开端c3和第二常开端c4;测试机通过牛角插座分别控制第一继电器和第二继电器;当相邻的两个测试管脚出现短路时,另一个测试管脚此时是通过继电器的常闭端接地的,此时测试机读取的数据是0V,判断为短路,解决了当前对IC检测时,两个相邻管脚发生短路无法被检测出来的问题。
搜索关键词: 一种 ic 短路 测试 装置
【主权项】:
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