[实用新型]一种双层测试治具有效
申请号: | 202220471534.2 | 申请日: | 2022-03-03 |
公开(公告)号: | CN217521202U | 公开(公告)日: | 2022-09-30 |
发明(设计)人: | 张和平;黄桂财 | 申请(专利权)人: | 深圳市联合东创科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/073 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李慧慧 |
地址: | 523000 广东省深圳市龙华区福城街道福民*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及测试设备技术领域,具体公开一种双层测试治具,包括:下测试电路板,所述下测试电路板设有向上凸伸的下检测探针;下治具组件,所述下治具组件固设于所述下测试电路板的上方,并设有用于放置待测产品的放件槽;所述下检测探针伸入所述放件槽中;上治具组件,所述上治具组件与下治具组件二者的一侧铰接,二者的另一侧可拆卸连接;上测试电路板,所述上测试电路板固定于所述上治具组件上,且所述上测试电路板设有向下凸伸的上检测探针。 | ||
搜索关键词: | 一种 双层 测试 | ||
【主权项】:
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