[发明专利]一种带激励源的低频噪声测试设备及方法在审
| 申请号： | 202211741193.7 | 申请日： | 2022-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN116500412A | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 孙怀民;张冀昭 | 申请（专利权）人： | 北京博达微科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 101399 北京市顺义区仁和镇澜*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种带激励源的低频噪声测试设备及方法，该种带激励源的低频噪声测试设备，包括动态激励源单元、金氧半场效晶体管、放大器单元和信号采集单元；所述动态激励源单元与所述金氧半场效晶体管的栅极电性连接，所述金氧半场效晶体管的漏极与所述放大器单元电性连接，所述放大器单元与所述信号采集单元电性连接。该技术方案可以准确获取特征激励频率下的低频噪声，减小相应陷阱状态的噪声电流贡献，从而达到降低1/f噪声量级的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激励 低频 噪声 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
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