[发明专利]一种集成基质涂覆功能的MALDI-TOF质谱仪及其使用方法在审
| 申请号： | 202211739127.6 | 申请日： | 2022-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN116053110A | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 张传洲;吴中豪;赵鹏;杨继伟;俞晓峰 | 申请（专利权）人： | 杭州谱育科技发展有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/04 | 分类号： | H01J49/04;H01J49/02;H01J49/16;H01J49/40 |
| 代理公司： | 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人： | 周帅 |
| 地址： | 311300 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及质谱分析技术领域，具体涉及一种集成基质涂覆功能的MALDI‑TOF质谱仪及其使用方法，所述的一种集成基质涂覆功能的MALDI‑TOF质谱仪包括：样品进出区域；离子飞行检测区域，用于对样品进行检测；基质喷涂区域，位于离子飞行检测区域、样品进出区域之间，用于对样品进行基质喷涂；光学系统，用于为离子飞行检测组件提供检测激光；真空系统，用于为离子飞行检测区域、基质喷涂室提供真空环境；数据采集成像系统，与离子飞行检测组件电性连接，用于对质谱数据进行处理并成像。本发明将基质涂覆、真空干燥和质谱检测成像三个步骤集成于一体，可以有效减少样品前期处理时间，降低了样品在不同装置间转移的污染概率，检测更精准，且设备使用方法简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成 基质 功能 maldi tof 质谱仪 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
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