[发明专利]测量方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211720851.4 | 申请日： | 2022-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN115988592A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 洪杰 | 申请（专利权）人： | 南京星思半导体有限公司 |
| 主分类号： | H04W36/00 | 分类号： | H04W36/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 丁文蕴 |
| 地址： | 210008 江苏省南京市自由贸*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供一种测量方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括根据第一小区在切换为服务小区之前测量得到的N个信号质量值，预测第一小区在切换为服务小区之后的信号质量值，其中，N为正整数；根据预测得到的信号质量值向网络侧设备进行上报。本申请实施例提供的测量方法降低了切换小区时测量与上报的耗时。 | ||
| 搜索关键词： | 测量方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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