[发明专利]一种集成电路设计和验证流程管理用自动化系统有效
| 申请号： | 202211612798.6 | 申请日： | 2022-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN115935868B | 公开（公告）日： | 2023-07-04 |
| 发明（设计）人： | 林逸舟;李科;刘向睿 | 申请（专利权）人： | 上海日观芯设自动化有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201306 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路设计和验证流程管理用自动化系统，涉及集成电路设计技术领域。本发明包括状态监控模块，状态信息维护模块，关键日志实时自动提取模块和可视化界面模块；所述状态监控模块用于实时监测各个目标流程的运行状态；所述状态信息维护模块用于维护全局的各个流程的状态信息；所述关键日志实时自动提取模块用于支持用户自定义格式日志自动提取；所述可视化界面模块提供用户简洁方便的交互界面，包括解析各个流程之间的依赖关系和计算各个图形摆放的坐标位置，还提供按键控制目标流程。本发明实现了芯片设计和验证流程中各个环节的任务创建、执行、运行状态实时监控和关键日志实时自动提取等功能，提高了芯片设计效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路设计 验证 流程 管理 自动化 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海日观芯设自动化有限公司，未经上海日观芯设自动化有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211612798.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
