[发明专利]一种用于集成电路测试系统的多通道自动转换装置在审

专利信息
申请号: 202211545926.X 申请日: 2022-12-05
公开(公告)号: CN115980397A 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 丁超;张明虎 申请(专利权)人: 中国船舶集团有限公司第七〇九研究所
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R35/00;G01R1/20;G01R1/18
代理公司: 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 代理人: 刘娅婷;张彩锦
地址: 430074 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置,包括通道切换控制板、数据转换板和多个磁动力机构,每个磁动力机构对应集成电路测试系统的一数字通道,磁动力机构包括壳体和将壳体分成上下两个腔室的电磁屏蔽板,上腔室的上端部设有电磁铁,电磁铁的一端与通道切换控制板的控制端相连,另一端接地,电磁屏蔽板的下方设有绝缘棒,其上方设有永磁体;数据转换板上对应的磁动力机构处均设置触点A和B,触点B正对数字通道且保持接触,触点A与金属弹簧片的一端相连,金属弹簧片的另一端与其所在的磁动力机构中的绝缘棒接触。本发明能减少整个校准装置的体积,无需采用继电器或外部机械测试装置,同时能实现自动控制数字通道的切换。
搜索关键词: 一种 用于 集成电路 测试 系统 通道 自动 转换 装置
【主权项】:
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