[发明专利]扫描光学装置在审
| 申请号： | 202211534403.5 | 申请日： | 2022-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN116224577A | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 横井淳一;高桥洋平 | 申请（专利权）人： | 兄弟工业株式会社 |
| 主分类号： | G02B26/12 | 分类号： | G02B26/12;G02B7/198 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 刘煜 |
| 地址： | 日本国爱知县名*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种在组装扫描光学装置时容易进行反射镜的角度调整的扫描光学装置。光扫描光学装置(1)具备光源、多面镜、电机、扫描光学系统(Lo)、框架(F)及座面(FsZ)。扫描光学系统(Lo)具有供在多面镜偏转的光束射入的第一扫描透镜、朝向像面射出光束的第二扫描透镜(70)及使光束朝向第二扫描透镜反射的反射镜(第一反射镜(81))。框架(F)具有固定有电机的底壁和包围底壁的侧壁。框架(F)在固定有扫描光学系统的第一方向的一方侧开口。座面(FsZ)支承反射镜而能够进行反射镜的角度的调整。反射镜在从框架(F)的底壁向朝向开口的方向上反射光束。框架(F)具有使反射镜的与座面(FsZ)在厚度方向上重叠的部分在与底壁的开口相反的一侧露出的形状。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 光学 装置 | ||
【主权项】：
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