[发明专利]一种β参考辐射场中污染光子的测算系统及测算方法在审
| 申请号： | 202211511890.3 | 申请日： | 2022-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN115755157A | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 滕忠斌;宋明哲;魏可新;刘蕴韬;倪宁;高飞;杭仲斌;耿璇 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 何娜;浦彩华 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及β参考辐射场领域，提供一种β参考辐射场中污染光子的测算系统及测算方法，测算系统包括能谱仪、准直器、β射线吸收件、光子吸收件和处理设备，能谱仪包括探测器和与探测器连接的测量器，准直器形成有通孔，放射源发出的β射线和污染光子均能够通过通孔射出至探测器上；β射线吸收件活动地设置于准直器上以封堵或打开通孔，β射线吸收件能够吸收β射线；光子吸收件活动地设置于准直器上以封堵或打开通孔，光子吸收件能够吸收污染光子和β射线；处理设备建立探测器和β射线吸收件的蒙特卡罗模型，通过所述蒙特卡罗模型计算得到污染光子的实际注量谱。最终，通过蒙特卡罗模型和污染光子的实际注量谱计算污染光子所致剂量份额。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 参考 辐射 污染 光子 测算 系统 方法 | ||
【主权项】：
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