[发明专利]一种准确校正荧光次级内滤效应的荧光定量分析方法在审
| 申请号： | 202211465532.3 | 申请日： | 2022-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN115718087A | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 刘天元;李婉香;富雨超;黄梅珍;李昊宸;梁婉 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 徐红银;禹雪平 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明提供一种准确校正荧光次级内滤效应的荧光定量分析方法，包括：获取一系列浓度荧光物质溶液的荧光光谱和吸光度光谱；对所有光谱进行预处理，并设置校正荧光衰减吸收程度系数的考察范围和光谱畸变度的考察段；根据次级内滤效应荧光衰减吸收指数分析模型，利用吸光度光谱校正在考察范围内所有浓度下的荧光光谱，得到不同n值下校正后的荧光光谱；计算在考察范围内各浓度荧光光谱的畸变度；根据全浓度范围内的最小畸变度，确定此时的校正荧光吸收程度系数，即为n |
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| 搜索关键词： | 一种 准确 校正 荧光 次级 效应 定量分析 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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