[发明专利]氧化炉层高精度测量方法在审
| 申请号： | 202211461333.5 | 申请日： | 2022-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN115790544A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 王洁;王镇浩;邹相辉;刘洋 | 申请（专利权）人： | 上海外高桥造船有限公司 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 罗洋;李伶俐 |
| 地址： | 200137 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种氧化炉层高精度测量方法，该氧化炉层高精度测量方法包括如下步骤：S1、将激光水平仪的水平激光线发射至任意一个测量层的一条基准线上、或者氧化炉顶面或氧化炉底面位置，调整所述氧化炉，使所述水平激光线与该位置处于同一水平面上；S2、利用卷尺以所述水平激光线为水平基准线，测量若干个所述测量层的层高；S3、测量所述水平基准线到所述氧化炉顶面及所述氧化炉底面的高度。激光水平仪不受本身设置位置的平整度影响，仅需调整即可发出水平激光线，根据激光水平仪的水平激光线调整氧化炉，能快速调整氧化炉至所需要的位置，利用卷尺以水平激光线为水平基准线，快速且准确定位了测量起点，提高了测量精度和测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 氧化 层高 精度 测量方法 | ||
【主权项】：
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