[发明专利]一种加速产线自动化测试PCB的方法、系统及介质在审

专利信息
申请号: 202211459078.0 申请日: 2022-11-17
公开(公告)号: CN115712055A 公开(公告)日: 2023-02-24
发明(设计)人: 蒋历国;代文亮;郝韵歌;凌峰;夏云兵;朱闪闪 申请(专利权)人: 芯和半导体科技(上海)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海乐泓专利代理事务所(普通合伙) 31385 代理人: 王瑞
地址: 201210 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种加速产线自动化测试PCB的方法、系统及介质,属于电路板测试领域。针对现有电路板测试自动化程度低和成本高的问题,本发明提供了一种加速产线自动化测试PCB的方法,包括以下步骤:测试主机向网络分析仪发送指令;网络分析仪生成刺激信号,将刺激信号传入电路板,电路板产生反射信号;反射信号发送至网络分析仪中,网络分析仪根据反射信号生成S参数;S参数上传至测试主机中,测试主机对S参数进行测试分析,并得到测试结果。本发明将分析运算S参数的模块从网络分析仪中剥离出来,通过测试主机对S参数进行测试分析,能够实现快速校准,增加测试主机对流程的把控力,降低电路板测试系统的开发难度和成本,更有利于进行定制化开发。
搜索关键词: 一种 加速 自动化 测试 pcb 方法 系统 介质
【主权项】:
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