[发明专利]一种集成电路快捷测试系统在审
| 申请号： | 202211450397.5 | 申请日： | 2022-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN115825695A | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 廖慧霞;莫嘉 | 申请（专利权）人： | 徐州芯特智能装备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京深川专利代理事务所(普通合伙) 16058 | 代理人： | 吴晓丹 |
| 地址： | 221400 江苏省新沂*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路快捷测试系统，包括：功能测试模块，具有多个测试单元，测试单元包括驱动器，用于执行功能测试；直流测试模块，具有电流输出端子和高阻抗电阻；储存装置，用于加载信号与地址选择信号，将信号分别储存为第一群组、第二群组和第三群组；第一校准单元，设置在多个驱动器和比较器之间；第二校准单元，所述第二校准单元包括根据第二组连接关系来耦合所述驱动器和比较器的对的固定接线路径。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 快捷 测试 系统 | ||
【主权项】：
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