[发明专利]一种基于目标检测的干涉条纹图定位方法在审
| 申请号： | 202211437851.3 | 申请日： | 2022-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN115808377A | 公开（公告）日： | 2023-03-17 |
| 发明（设计）人： | 苗长云;武宇航;孙金露;邱岳 | 申请（专利权）人： | 天津工业大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/0985 |
| 代理公司： | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人： | 仝林叶 |
| 地址： | 300387 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于目标检测的干涉条纹图定位方法。本发明利用干涉粒子成像系统获取透明球形粒子的干涉条纹图，将标注后的干涉条纹图划分为训练集、验证集和测试集，训练200epochs后获取最优权重，将测试集作为目标检测网络的输入，得到含有干涉条纹图归一化位置信息的预测框，经过坐标提取和反变换后获得干涉条纹图中心点。本发明可以实现透明球形粒子干涉条纹图的高精度定位，为粒子尺寸的测量提供技术支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 目标 检测 干涉 条纹 定位 方法 | ||
【主权项】：
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