[发明专利]一种探针式图像光散射颗粒粒度测试装置及测试方法在审
申请号: | 202211418044.7 | 申请日: | 2022-11-14 |
公开(公告)号: | CN115753525A | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
发明(设计)人: | 苏明旭;孙存金;熊兵;蒙正猛;田昌;肖新宇 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学;中国航发四川燃气涡轮研究院 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 卢泓宇 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了探针式图像光散射颗粒粒度测试装置,包括:支撑单元,包括支撑座和两个筒状的壳体,两个壳体的轴线同轴设置,两个壳体沿其轴线的方向可移动地穿设在支撑座上;光路系统发射单元,包括激光器以及沿激光发射方向依次设置的滤光片、衰减片、扩束器以及光阑;以及散射信号接收单元,包括沿激光发射方向依次设置的接收透镜和图像传感器。在本发明中,因为本发明探针式图像光散射颗粒粒度测试装置中仅通过一个支撑座和两个壳体便完成了基础框架的组装,所以解决了现有仪器笨重、体积庞大、移动不便的缺点,从而提高了本发明探针式图像光散射颗粒粒度测试装置在实际使用过程中的工作效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 探针 图像 散射 颗粒 粒度 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
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