[发明专利]一种测试装置的高低温微波衰减特性校准方法在审
| 申请号： | 202211341389.7 | 申请日： | 2022-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN116125354A | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 刘丽;李新伟;易磊;刘鉴莹;赵自文;徐毓雄;魏正;申龙;韩颖;王卓;张雅眉 | 申请（专利权）人： | 中国空空导弹研究院 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 471009 *** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种涉及大功率辐射源功率测试技术领域的测试装置的高低温微波衰减特性校准方法，通过发射天线Ⅰ检测测试装置在1GHz～40GHz频段，‑55℃～75℃环境温度下的功率性能，测试装置包含装置用吸波材料、微波链路和接收天线Ⅰ；通过透波温箱提供‑55℃～75℃温度环境，透波温箱的温度控制精度≤±2℃，温度波动度≤±0.5℃，温度均匀性≤2℃，透波温箱一侧设有透波窗；包含以下步骤：S1、测试装置的高低温特性影响量分量测试；S2、参数校准和S3溯源；本发明实现了对测试装置微波衰减特性在高低温环境条件下的精确校准和量值溯源，从而为大功率辐射源在高低温环境下的功率测试结果提供修正参考。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 装置 低温 微波 衰减 特性 校准 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国空空导弹研究院，未经中国空空导弹研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211341389.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种可调温的仪器支架结构
- 下一篇：一种电阻阵列辐射特性低温背景测试方法
