[发明专利]一种频谱分析仪噪声系数测试方法在审
| 申请号： | 202211339815.3 | 申请日： | 2022-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN115656651A | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 杨东营;许建华;杜会文;宋青娥;赵永志 | 申请（专利权）人： | 中电科思仪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26;G01R35/00 |
| 代理公司： | 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 | 代理人： | 冯昌进 |
| 地址： | 266555 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提出了一种频谱分析仪噪声系数测试方法，包括步骤：S1、采用频谱分析仪内部衰减器进行噪声系数分析校准；S2、采用频谱分析仪内部衰减器进行噪声系数分析测试，包括子步骤：S21、测试连接；S22、根据ADC采集是否过载判断是否需要调用程控衰减器；S23、调用被选中的衰减量插入损耗校准数据，作为被测件后的损耗补偿进行计算；S24、根据加载的噪声源超噪比、测量参数和校准得到的通道特征参数和损耗补偿计算噪声系数。本发明通过校准获得分析仪内部程控衰减器精确衰减数据，使用被测件后损耗补偿方法，分析仪的自身的噪声系数更优，对被测件噪声系数和增益测量不确定度影响更小、结果更精确，更适合测试大增益、小噪声系数的被测件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 频谱 分析 噪声系数 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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