[发明专利]晶体生长炉产线及检测方法在审
申请号: | 202211315539.7 | 申请日: | 2022-10-26 |
公开(公告)号: | CN115364596A | 公开(公告)日: | 2022-11-22 |
发明(设计)人: | 曹建伟;朱亮;叶钢飞;倪军夫;石明智;王小飞 | 申请(专利权)人: | 浙江求是半导体设备有限公司 |
主分类号: | B01D46/46 | 分类号: | B01D46/46;B01D46/90;C30B15/20;C30B29/06;G01D21/02 |
代理公司: | 杭州钤韬知识产权代理事务所(普通合伙) 33329 | 代理人: | 赵杰香 |
地址: | 311100 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶体生长炉产线,包括:晶体生长炉;第一抽滤系统,包括过滤机构和抽空机构,过滤机构设置在抽空机构和晶体生长炉之间;第二抽滤系统;集尘系统,用于清理过滤机构中的氧化物;晶体生长炉还用于检测抽空机构的抽空速度;当晶体生长炉进入工作状态后,过滤机构检测晶体生长炉中产生的氧化物的重量变化,并计算氧化物含量;若满足第一条件和第二条件中至少之一时,第一抽滤系统切换为第二抽滤系统,此时,第二抽滤系统为晶体生长炉进行抽空和过滤,第一抽滤系统进入清理模式。通过上述设置,可以实现晶体生长炉产线的不需要停机即可切换抽空和过滤的装置,并实现晶体生长炉产线的在线实时异常检测。 | ||
搜索关键词: | 晶体生长 炉产线 检测 方法 | ||
【主权项】:
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