[发明专利]设备存储性能的检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202211295817.7 | 申请日: | 2022-10-21 |
公开(公告)号: | CN115934435A | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 柴小明;范梦瑶 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
地址: | 215000 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种设备存储性能的检测方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括:获取硬盘的实时性能参数和硬盘对应的标准性能参数,若存在至少一项实时性能参数未满足标准性能参数,则获取硬盘数量、硬盘性能值、RAID阵列性能值以及背板对应的背板性能值,根据硬盘数量和各个硬盘性能值获得所有硬盘对应的硬盘总性能值,若硬盘总性能值大于RAID阵列性能值和/或硬盘总性能值大于背板性能值,则执行针对背板的断电操作,响应于背板重新上电,关闭至少一个硬盘的运行,并继续对剩余的硬盘进行存储性能检测,直至剩余硬盘的硬盘总性能值小于或等于RAID阵列性能值且硬盘总性能值小于或等于背板性能值时,获得每次存储性能检测对应的检测结果。 | ||
搜索关键词: | 设备 存储 性能 检测 方法 装置 电子设备 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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