[发明专利]元器件测试方法、测试设备及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202211286950.6 | 申请日： | 2022-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN115902454A | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 谭躲 | 申请（专利权）人： | 武汉宝龙达信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G06F3/0484;G06F3/04895 |
| 代理公司： | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人： | 李晶 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种元器件测试方法、测试设备及计算机可读存储介质。所述元器件测试方法包括：当待测试元器件的实际工作状态为异常状态时，输出测试交互界面，所述测试交互界面包括用于显示所述待测试元器件信息的第一显示区域，和用于显示控制按键提示信息的第二显示区域；当检测到所述控制按键被触发时，获取所述控制按键对应的控制指令；基于预设控制接口，控制所述待测试元器件执行所述控制指令；接收所述待测试元器件基于所述控制指令测试后返回的功能测试结果；基于所述测试交互界面，更新所述待测试元器件的功能测试结果。有利于在元器件在被测试出工作状态为故障状态时，第一时间区分该故障是由硬件原因导致还是由软件原因导致。 | ||
| 搜索关键词： | 元器件 测试 方法 设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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