[发明专利]存储设备测试方法、系统、设备和可读存储介质在审
| 申请号： | 202211274181.8 | 申请日： | 2022-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN115588458A | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | 林寅;吴大畏;李晓强 | 申请（专利权）人： | 深圳市硅格半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人： | 刘冰 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种存储设备测试方法、存储设备测试系统、存储设备测试设备以及计算机可读存储介质，该方法包括：在接收到第一测试指令时，确定所述第一测试指令对应的业务流程；获取所述业务流程对应的业务指令信息；根据所述业务指令信息生成第二测试指令，并将所述第二测试指令发送至待测试设备。解决了相关技术中测试快速存储器在不同平台的运行情况需要购买相应的平台进行拆机测试，在使用不同的测试软件时也需要进行适应的开发优化的技术问题，实现了不需要购置所有平台进行拆机测试，有效降低测试成本的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 设备 测试 方法 系统 可读 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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