[发明专利]一种失效分析标准流程生成方法及系统在审
申请号: | 202211235469.4 | 申请日: | 2022-10-10 |
公开(公告)号: | CN115481261A | 公开(公告)日: | 2022-12-16 |
发明(设计)人: | 刘丁枭;马晋辰;柳孟阳;申松坡;许沛卿;吕猛森;张鹏;王绍兰;王笑尘 | 申请(专利权)人: | 北京智谱华章科技有限公司 |
主分类号: | G06F16/36 | 分类号: | G06F16/36;G06F16/33;G06F40/289;G06N5/04 |
代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人: | 刘镜 |
地址: | 100084 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种失效分析标准流程生成方法及系统,属于失效分析技术领域,解决了现有无法自动生成失效分析标准流程的问题。包括:构建失效分析知识图谱,基于失效分析知识图谱,构建新零件的物理结构类和故障现象类实体及其属性和关系,根据实体相似度,建立新零件与旧零件的实体对齐关系;依次取出新零件的故障现象类的检测项目实体,根据实体对齐关系,获取当前检测项目实体对应的旧零件的检测项目实体,根据旧零件的检测项目实体关联的物理结构类和检测流程类实体,构建新零件当前检测项目实体关联的检测流程类实体及其属性和关系;根据新零件的检测流程类实体及其属性和关系,生成失效分析标准流程。实现了失效分析标准流程的自动化和标准化。 | ||
搜索关键词: | 一种 失效 分析 标准 流程 生成 方法 系统 | ||
【主权项】:
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