[发明专利]一种单线调试方法、装置、MCU芯片、调试器及系统在审
申请号: | 202211224888.8 | 申请日: | 2022-10-09 |
公开(公告)号: | CN115658412A | 公开(公告)日: | 2023-01-31 |
发明(设计)人: | 董官斌;董继宣;吴淑霞 | 申请(专利权)人: | 深圳市思远半导体有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26;G06F11/22 |
代理公司: | 深圳市君之泉知识产权代理有限公司 44366 | 代理人: | 程苗 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种单线调试方法、装置、MCU芯片、调试器及系统,其中,应用于MCU芯片的单线调试方法包括步骤S100,通过第一引脚获取调试器发送的请求指令,请求指令的编码方式区别于正常工作指令的编码方式;步骤S110,响应请求指令从正常工作模式切换进入单线调试模式;步骤S130,通过第一引脚与调试器进行调试数据交互,以进行单线调试操作;步骤S140,在通过第一引脚接收到调试器发送的退出调试指令时,响应退出调试指令从单线调试模式切换至正常工作模式。本发明公开的一种单线调试方法,既不需要预留专门用于调试使用的引脚,也不需要其它引脚配合就可以进入单线调试模式,从而简洁有效地最大化利用了MCU芯片的引脚资源。 | ||
搜索关键词: | 一种 单线 调试 方法 装置 mcu 芯片 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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