[发明专利]用于集成电路电磁兼容测试的模拟信号监测系统及方法在审
申请号: | 202211200536.9 | 申请日: | 2022-09-29 |
公开(公告)号: | CN115453247A | 公开(公告)日: | 2022-12-09 |
发明(设计)人: | 陈梅双;项道才;叶畅;朱赛;付君;王酣;崔强 | 申请(专利权)人: | 中国电子技术标准化研究院 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/30 |
代理公司: | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人: | 陈琳琳;杨青 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及集成电路电磁抗扰度测试信号的监测领域,具体涉及一种用于集成电路电磁兼容测试的模拟信号监测系统及方法。本发明通过参考信号生成单元获得参考模拟信号和参考数字信号;通过模拟信号采集单元对集成电路芯片进行电磁兼容测试的被测模拟信号进行采样,并转化为被测数字信号;通过校准单元对参考数字信号进行自校准以及根据采集的被测模拟信号正常状态时的采样值对参考数字信号进行校准;通过模拟信号比较单元和数字信号比较单元两级比较单元,比较被测信号和参考信号,对异常进行判断;通过数字信号分析单元对被测数字信号进行实时监测和分析,自动判定集成电路芯片的抗扰度能力等级。 | ||
搜索关键词: | 用于 集成电路 电磁 兼容 测试 模拟 信号 监测 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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