[发明专利]测试方法及装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202211185800.6 申请日: 2022-09-27
公开(公告)号: CN115604144A 公开(公告)日: 2023-01-13
发明(设计)人: 黄悦;钱正宇;胡鸣人;袁正雄;褚振方;罗阳;王国彬;钱洋;王宽 申请(专利权)人: 北京百度网讯科技有限公司
主分类号: H04L43/08 分类号: H04L43/08;H04L43/50;H04L67/10;H04L9/40
代理公司: 北京市汉坤律师事务所 11602 代理人: 姜浩然;吴丽丽
地址: 100085 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供了一种测试方法及装置、电子设备和存储介质,涉及人工智能技术领域,尤其涉及云服务、云原生、微服务等技术领域。实现方案为:接收第一测试请求,第一测试请求包括用于测试被测服务的目标测试任务的信息;响应于第一设备拒绝执行目标测试任务,或者,第一设备同意执行目标测试任务且执行目标测试任务所需的测试设备的第一数量大于1,基于第一测试请求生成至少一个第二测试请求;以及将至少一个第二测试请求分别转发给至少一个第二设备,以便至少一个第二设备中的每个第二设备对相应的第二测试请求进行响应,至少一个第二设备中的每个第二设备为分布式测试系统中的除第一设备以外的任一测试设备。
搜索关键词: 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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