[发明专利]一种三极管中子辐射效应的建模方法及系统在审

专利信息
申请号: 202211163746.5 申请日: 2022-09-23
公开(公告)号: CN115455717A 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 刘锦辉;梁博;张晓鹏;谭雯丹;张馨丹 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 贺建斌
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明属于微电子器件辐照效应模型的建模技术领域,公开了一种三极管中子辐射效应的建模方法及系统,建模方法包括:选择或设计原始器件;获得原始三极管器件的模型数据;提取基极端口的输入V‑I特性曲线和集电极、发射极端口的输出V‑I特性曲线;根据基极特性曲线提取基极输入阻抗模型参数,根据输出特性曲线提取三极管输出模型参数;结合输入输出特性曲线得到三极管电流放大系数等基本器件参数;根据模型参数建立三极管器件物理模型;根据中子辐射效应造成的器件电特性退化,建立三极管器件基极、集电极、发射极端口中子辐射效应模型;本发明建立的模型能反映三极管器件的基本器件特性,为在辐照条件下进行系统仿真提供模型支持。
搜索关键词: 一种 三极管 中子 辐射 效应 建模 方法 系统
【主权项】:
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