[发明专利]基于光纤F-P腔和光学频率梳的微波频谱分析系统在审

专利信息
申请号: 202211129159.4 申请日: 2022-09-16
公开(公告)号: CN115541998A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 张思琦;隋新宇;靳辰飞;丹丽智;沈志强;唐勐 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01R23/165 分类号: G01R23/165;G01R23/02
代理公司: 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司 23213 代理人: 杨晓辉
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 基于光纤F‑P腔和光学频率梳的微波频谱分析系统,涉及微波频谱分析领域。解决现有的微波光子信道化接收机在实现较大带宽射频谱的实时、高分辨率监控的同时,其性能差及性能受限问题;本发明利用光电调制器将待测射频信号加载到单频激光器出射的单频率光上,得到的光边带信号送至光纤F‑P腔进行过滤处理,得到频率等间隔的光信号;耦合器用于对光纤F‑P腔输出的频率等间隔的光信号与光学频率梳生成器输出的光学频率梳进行拍频处理,获得的拍频后的光信号送至低带宽光电探测器进行滤波和光电探测得到电信号,该电信号通过数字采集器采样后,送至处理器进行频谱分析,获得待测射频信号频率谱。本发明主要用于进行微波频谱分析。
搜索关键词: 基于 光纤 光学 频率 微波 频谱 分析 系统
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