[发明专利]一种星载空间粒子辐射效应综合测量仪在审

专利信息
申请号: 202211115535.4 申请日: 2022-09-14
公开(公告)号: CN115542364A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 张焕新;张珅毅;沈国红;脱长生;权子达;侯东辉;程立辉;苏波;孙莹;荆涛;孙越强 申请(专利权)人: 中国科学院国家空间科学中心
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02;G01T1/16;G01T1/24;G01T1/36
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 陈琳琳;杨青
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种星载空间粒子辐射效应综合测量仪,该探测器搭载在卫星平台上,测量仪包括探头;探头包括传感器模块;传感器模块包括:第一半导体传感器、第二半导体传感器、第三半导体传感器和一片单粒子翻转检测芯片;第一半导体传感器、第二半导体传感器和第三半导体传感器,用于通过不同的组合方式分别对高能质子和重离子、辐射剂量率以及LET谱进行测量,产生相应的信号;单粒子翻转检测芯片放置在第二半导体传感器和第三半导体传感器之间,用于对单粒子翻转情况进行测量,与LET谱对应。本发明通过一体化的探头设计,使用三片硅半导体传感器和一片单粒子翻转检测芯片,同时实现对高能质子和He离子、辐射剂量率、LET谱和单粒子翻转信息的探测。
搜索关键词: 一种 空间 粒子 辐射 效应 综合 测量仪
【主权项】:
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