[发明专利]一种涡旋光束阵列拓扑荷数的测量方法和系统在审
申请号: | 202211114412.9 | 申请日: | 2022-09-14 |
公开(公告)号: | CN115389033A | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 沈锋;熊光昀;唐奥;兰斌 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 邓治平 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及一种涡旋光束阵列拓扑荷数的测量方法和系统。本发明利用像散相位将涡旋光束阵列转换为厄米‑高斯光束阵列,并得到了输入面涡旋光束与输出面厄米‑高斯光束的空间位置对应关系,通过对应位置上的厄米‑高斯光束的暗条纹的数量和方向,来得到涡旋光束阵列的拓扑荷数信息。本发明高效简单,而且还可以测量大阵列涡旋光束的拓扑荷数。 | ||
搜索关键词: | 一种 涡旋 光束 阵列 拓扑 测量方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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