[发明专利]一种涡旋光束阵列拓扑荷数的测量方法和系统在审

专利信息
申请号: 202211114412.9 申请日: 2022-09-14
公开(公告)号: CN115389033A 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 沈锋;熊光昀;唐奥;兰斌 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 邓治平
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种涡旋光束阵列拓扑荷数的测量方法和系统。本发明利用像散相位将涡旋光束阵列转换为厄米‑高斯光束阵列,并得到了输入面涡旋光束与输出面厄米‑高斯光束的空间位置对应关系,通过对应位置上的厄米‑高斯光束的暗条纹的数量和方向,来得到涡旋光束阵列的拓扑荷数信息。本发明高效简单,而且还可以测量大阵列涡旋光束的拓扑荷数。
搜索关键词: 一种 涡旋 光束 阵列 拓扑 测量方法 系统
【主权项】:
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