[发明专利]试题批改方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202211097082.7 | 申请日： | 2022-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN115761780A | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 丁林林;赵宽;陈晓倩;么士宇 | 申请（专利权）人： | 北京世纪好未来教育科技有限公司 |
| 主分类号： | G06V30/42 | 分类号： | G06V30/42;G06V30/19;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人： | 范彦扬 |
| 地址： | 100089 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种试题批改方法、装置、电子设备和存储介质。试题批改方法包括：获取待批改图像，其中，所述待批改图像包括目标试题的手写答案；通过预先训练完成的预测模型预测所述手写答案，输出预测字符；按照预设规则在所述预测字符中确定目标字符；将所述目标字符和所述目标试题的标准答案进行比对以完成所述目标试题的批改。本公开可以应用在带有涂改痕迹的识别场景下，能够高效准确的识别出图像中的手写答案。 | ||
| 搜索关键词： | 试题 批改 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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