[发明专利]一种低温微区极向磁光克尔效应测量装置及方法在审
| 申请号： | 202211075597.7 | 申请日： | 2022-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN115291146A | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 李林军;朱焕峰;范鑫怡 | 申请（专利权）人： | 浙江大学嘉兴研究院;浙江大学 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032;G01R33/14;G01R33/00 |
| 代理公司： | 杭州中成专利事务所有限公司 33212 | 代理人： | 李亦慈;唐银益 |
| 地址： | 314031 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种低温微区极向磁光克尔效应测量装置及方法。包括：入射光路单元、三维压电样品台及控制单元、反射光路单元、低温超导磁体单元和照明光路单元。它采用光弹调制的方法，系统实现简单，具有较高的信噪比。采用三维压电样品台可实现在不同温度条件下对磁性样品磁滞回线的测量，同时也可实现对磁性样品表面微区磁畴分布的观测，从测量的曲线中得出样品的矫顽场、磁化强度、磁各向异性、磁畴分布以及层间耦合等信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低温 微区极 克尔 效应 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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