[发明专利]一种宽带非接触太赫兹近场显微系统在审
申请号: | 202211065908.1 | 申请日: | 2022-09-01 |
公开(公告)号: | CN115389453A | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 杨锦鹏;韩顺利;杨耀辉;张亭;张文征 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01N21/3586 | 分类号: | G01N21/3586 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人: | 任欢 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种宽带非接触太赫兹近场显微系统,属于非接触测试技术领域。包括矢量网络分析主机、以及分别与矢量网络分析主机相连接的一号太赫兹S参数测试模块和二号太赫兹S参数测试模块,一号太赫兹S参数测试模块的输出端口连接输入耦合器,二号太赫兹S参数测试模块的输出端口连接输出耦合器,输入耦合器输出参考信号支路和测试信号支路,参考信号支路和测试信号支路输入至输出耦合器,由输出耦合器将参考信号支路和测试信号支路合为一路;测试信号支路上设置有可调耦合谐振近场探针,可调耦合谐振近场探针用于对样品进行近场探测。本发明可以实现微观尺度下待测物质介电属性微小变化的宽带探测,在宽频带内实现探测灵敏度的提高。 | ||
搜索关键词: | 一种 宽带 接触 赫兹 近场 显微 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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