[发明专利]一种能够表征植物根系内部微观结构的单根抗拉试验离散元模拟方法在审
申请号: | 202211054067.4 | 申请日: | 2022-08-31 |
公开(公告)号: | CN115452632A | 公开(公告)日: | 2022-12-09 |
发明(设计)人: | 刘一鸣;窦慧茹;肖衡林;马强;陶高梁;万娟;白玉霞;黄少平;周鑫隆;高翔;杨柳;田钰涵;蔡凡;刘力;虞海兵 | 申请(专利权)人: | 湖北工业大学 |
主分类号: | G01N3/40 | 分类号: | G01N3/40;G01N3/08;G01N3/02;G01N1/28;G01N1/36;G06T17/05 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 李炜 |
地址: | 430068 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开一种能够表征植物根系内部微观结构的单根抗拉试验离散元模拟方法,包括以下步骤:(1)试验根系的选择和备样;(2)微观力学性能测试;(3)根系内部图像采集:获取根系切片的SEM图,然后利用Inspect 3D软件进行匹配对中,再将根系微观结构图片进行叠加,对所有分层的三维重构,获得三维结构模型生成stl格式保存为文件;(4)根系微观结构的单根抗拉试验;(5)根系微观结构的离散元模型建立;(6)通过实测结果对离散元参数进行标定和修正。本发明提供的方法大幅提高建模精度,并通过参数修正获得更高质的,更接近真实的模型,为研究根系抗拉强度这一具有表征性的重要指标提供了方向,对于根系结构内部微观力学性能研究以及固土护坡的深远意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 能够 表征 植物 根系 内部 微观 结构 单根抗拉 试验 离散 模拟 方法 | ||
【主权项】:
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