[发明专利]一种用于飞行时间二次离子质谱分析的超薄有机膜层的制样及分析方法在审
| 申请号： | 202211028575.5 | 申请日： | 2022-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN115235861A | 公开（公告）日： | 2022-10-25 |
| 发明（设计）人： | 朱雷;华佑南;李晓旻 | 申请（专利权）人： | 胜科纳米（苏州）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/40 | 分类号： | G01N1/40;G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 刘二艳 |
| 地址： | 215124 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种用于飞行时间二次离子质谱分析的超薄有机膜层的制样及分析方法，所述制样方法包括以下步骤：向分布有待测超薄有机膜层的载体表面滴加有机溶剂，待有机溶剂挥发，形成在显微镜下可观察的浓缩区域，完成对超薄有机膜层的制样。在本发明中，根据相似相溶的原理，有机溶剂可以将待测超薄有机膜层溶解，待有机溶剂挥发后，有机膜层的有机物浓缩，从而可以得到密度更大的有机膜层，当将其用于飞行时间二次离子质谱分析时，可以提高得到分子离子的几率。并且，采用本发明的制样方法，有机溶剂并不会破坏有机膜层的分子结构、分子质量数，因此，不会对质谱分析结果有所影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 飞行 时间 二次 离子 谱分析 超薄 有机 分析 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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