[发明专利]插片机构及硅钢片试样磁性能测量系统在审
| 申请号： | 202211026248.6 | 申请日： | 2022-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN115236564A | 公开（公告）日： | 2022-10-25 |
| 发明（设计）人： | 周新华;曾凯;李文静 | 申请（专利权）人： | 长沙天恒测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/00 | 分类号： | G01R33/00;G01R33/12 |
| 代理公司： | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人： | 邱轶 |
| 地址： | 410000 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种插片机构及硅钢片试样磁性能测量系统，该机构包括真空发生器和插样结构，插样结构一端集成真空发生器并用于机械连接上料机械手，插样结构内设气腔且插样结构的取样面开设有N个气孔，各气孔通过气腔与真空发生器气道连通，插样结构与样片结构匹配；真空发生器用于驱动插样结构吸取样片并插入爱泼斯坦方圈，以及插片后释放样片。采用真空发生器和插样结构相结合的方式将样片整体吸附，使得薄的硅钢片也能被整体吸取并插入爱泼斯坦方圈内进行测量。上述方案结合上料机械手本身的精准定位能力，在上料机械手末端利用上述插片机构，能够在插片精度更高的前提下，大大提高插片效率。 | ||
| 搜索关键词： | 机构 硅钢片 试样 磁性 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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