[发明专利]一种相控阵多维高效率远场校准测试方法

摘要

本发明公开了一种相控阵多维高效率远场校准测试方法，发射通道校准包括：S1、初始化m＝1；S2、将测试天线放置到测试角度βm上；S3、打开通道1，测量远场辐射功率；S4、初始化n＝2；S5、校准通道n；S6、n＝n+1，若n≤N则返回S5；S7、对相控阵天线的各通道进行校准；S8、m＝m+1，若m≤M则返回S2，否则结束校准。接收通道校准包括：S9、打开通道1，测量采样信号幅度的最大值；S10、初始化n＝2；S11、校准通道n；S12、n＝n+1，若n≤N则返回S11；S13、对相控阵天线的接收通道进行校准。本发明实现了相控阵天线校准过程的自动化，减小了人员操作的难度以及操作误差，提高了测试精度和测试效率。