[发明专利]基于太赫兹时域光谱系统的雷达吸波涂层测厚方法在审
| 申请号： | 202210847035.3 | 申请日： | 2022-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN115164746A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 袁利娜;解二伟;殷世坤;张燕燕;刘艳梅 | 申请（专利权）人： | 沈阳飞机工业（集团）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 李晓亮 |
| 地址： | 110034 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于太赫兹时域光谱系统的雷达吸波涂层测厚方法，属于涂层厚度检测技术领域，为非接触式测厚方法。本发明基于太赫兹反射波的测量原理，通过测量不同界面的垂直反射太赫兹信号的延迟时间，结合折射率参数，表征雷达吸波涂层的厚度。本发明可实现涂层厚度的非接触式测量，可用于湿涂层的厚度检测，通过本发明提供的方法测得的雷达吸波涂层厚度值与标准值吻合较好，且操作简单，测量精度高，适应性强，满足现场使用要求。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 赫兹 时域 光谱 系统 雷达 涂层 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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