[发明专利]位移平台、质谱成像系统及其控制方法在审
| 申请号： | 202210835375.4 | 申请日： | 2022-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN115312370A | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 维科托（北京）科技有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/04 | 分类号： | H01J49/04;H01J49/16;H01J49/00;A61L2/10 |
| 代理公司： | 深圳市中原力和专利商标事务所(普通合伙) 44289 | 代理人： | 胡国良 |
| 地址： | 101113 北京市通州区张家湾镇通州工业开发*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于对待测样品质谱成像的位移平台、质谱成像系统及其控制方法。所述质谱成像系统包括舱体、工作台、位移平台、杀菌模组、电喷雾电离模组、取样模组、进样模组、质谱仪及控制系统。所述位移平台包括具凹槽的载物台、具冷却通道的冷却板及稳相介质，所述凹槽收容所述待测样品，所述冷却板与所述载物台叠设，所述稳相介质于所述冷却通道内循环。本发明确保了大面积扫描工作能长时间持续且稳定的开展，提高效率、产量并确保所述质谱成像系统检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 位移 平台 成像 系统 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
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