[发明专利]基于X射线的在线面密度测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 202210815492.4 申请日: 2022-07-12
公开(公告)号: CN115372200A 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 彭智;严上奇;彭建;严循东 申请(专利权)人: 蓝冰河(常州)精密测量技术有限责任公司
主分类号: G01N9/24 分类号: G01N9/24
代理公司: 常州市科佑新创专利代理有限公司 32672 代理人: 汤勇
地址: 213000 江苏省常州市武进*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种基于X射线在线面密度测量方法及装置,所述方法包括:获取薄膜基材的原始数据;对原始数据进行预处理;对处理后的数据进行模型训练,获得监控模型;通过X射线探测器获取薄膜基材的实时测量数据;将实时测量数据输入至监控模型中,从而完成对薄膜基材面密度的检测;依据面密度检测结果分析薄膜基材的质量。通过监控模型对薄膜基材的面密度进行精密测量,以及对薄膜基材的一致性生产质量管控,保证薄膜基材生产线的稳定性,全方位提升薄膜基材的产品质量。
搜索关键词: 基于 射线 在线 密度 测量方法 装置
【主权项】:
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