[发明专利]矿物或岩石等高精度显微分析的微区取样平台及其方法在审

专利信息
申请号: 202210805105.9 申请日: 2022-07-08
公开(公告)号: CN115127862A 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 晏宏;刘成程;石歌;刘姗 申请(专利权)人: 中国科学院地球环境研究所
主分类号: G01N1/08 分类号: G01N1/08
代理公司: 陕西宝盾云知识产权代理事务所(普通合伙) 61294 代理人: 赵艳
地址: 710065*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种矿物或岩石等高精度显微分析的微区取样平台及其方法,其矿物或岩石等高精度显微分析的微区取样平台包括支撑板、设置在支撑板上的Y轴驱动机构和Z轴驱动机构、设置在Y轴驱动机构上方的X轴驱动机构、设置在Z轴驱动机构上的钻取机构、设置在X轴驱动机构上方的载物台、设置在支撑板一侧的冷却机构、控制系统和PC上位机。本发明的取样平台为微区取样提供了平稳减震的作业平台,提高了取样的精度和效率,通过X轴驱动机构、Y轴驱动机构、Z轴驱动机构的设置实现了对样品位置的精准调控,并通过控制系统和PC上位机实现了直观的自动化控制,提高了控制的精度,提高了取样效率,同时为科研的发展提供坚实的基础。
搜索关键词: 矿物 岩石 高精度 显微 分析 取样 平台 及其 方法
【主权项】:
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