[发明专利]散焦校正方法、装置、散焦校正模体及电子装置有效

专利信息
申请号: 202210776284.8 申请日: 2022-06-30
公开(公告)号: CN115105108B 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 柴佳彬;张笛儿 申请(专利权)人: 赛诺威盛科技(北京)股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/03;G06T11/00
代理公司: 北京知果之信知识产权代理有限公司 11541 代理人: 苏利
地址: 100176 北京市大兴区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种散焦校正方法、装置、计算机可读存储介质及电子装置。该散焦校正方法包括:接收模体衰减数据和空气衰减数据;对所述模体衰减数据和空气衰减数据执行预设处理操作,得到模体的实测数据和目标数据;将所述实测数据和目标数据输入构建的kernel曲线表达模型进行计算,计算出的kernel曲线保存至散焦误差表;基于所述散焦误差表中的kernel曲线对待散焦校正数据执行散焦校正操作。本申请解决了由于手动调节的kernel曲线准确度不够造成的散焦校正效果不理想的技术问题。
搜索关键词: 散焦 校正 方法 装置 电子
【主权项】:
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