[发明专利]一种热电器件性能退化预测方法及应用在审

专利信息
申请号: 202210772397.0 申请日: 2022-06-30
公开(公告)号: CN115081144A 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 申利梅;刘泽宇;秦江;刘尊;刘志杰 申请(专利权)人: 华中科技大学;深圳华中科技大学研究院
主分类号: G06F30/17 分类号: G06F30/17;G06F30/20;G06F119/04;G06F119/08
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 司宁宁
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于热电器件技术领域,其公开了一种热电器件性能退化预测方法及应用,方法包括:获取热电器件中每个热电单元的初始电阻值;对热电器件进行热循环和/或功率循环,并定期间隔预设循环数后测量每个热电单元的电阻值;获得不同循环数后每个热电单元的裂纹长度,并进行拟合获得一次函数;获取循环数线性关系和增长速率线性关系;将待预测热电单元结合层平均应变能密度输入循环数线性关系,则得到待预测热电单元的裂纹萌发循环数,若循环数大于裂纹萌发循环数,则待预测热电单元性能发生了退化;否则未发生退化;将每个热电单元的电阻相加后与初始电阻叠加值比较获得整个待预测热电器件的退化情况。本申请能够准确预测热电器件的性能退化情况。
搜索关键词: 一种 热电器件 性能 退化 预测 方法 应用
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学;深圳华中科技大学研究院,未经华中科技大学;深圳华中科技大学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210772397.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top