[发明专利]应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台在审
| 申请号： | 202210701869.3 | 申请日： | 2022-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN115061865A | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 郑文豪 | 申请（专利权）人： | 南京扬贺扬微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 刘奕 |
| 地址： | 211800 江苏省南京市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台，涉及芯片测试技术领域，所述方法应用于SPI测试平台，SPI测试平台至少包含第一MCU、第二MCU、命令接收缓存和结果发送缓存，第二MCU支持QSPI协议，方法包括：第一MCU接收测试主机发送的SPI NAND FLASH芯片的功能测试命令；第一MCU将功能测试命令存储在命令接收缓存中；第二MCU检测到命令接收缓存中存有功能测试命令时，将功能测试命令发送至SPI控制器；第二MCU接收SPI控制器反馈的功能测试结果，将功能测试结果存储在结果发送缓存中；第一MCU检测到结果发送缓存中存有功能测试结果时，将功能测试结果反馈给测试主机。采用本申请，可以缩短SPI测试时间，提高SPI NAND FLASH芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 spi nand flash 芯片 功能 测试 方法 平台 | ||
【主权项】：
暂无信息
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