[发明专利]一种主动降噪调试方法、系统、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210686996.0 | 申请日： | 2022-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN115017717A | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 李倩;江良义;王治聪;陈锦明;秦成;伍星强 | 申请（专利权）人： | 恒玄科技（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F111/04;G06F119/10 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 蒋姗 |
| 地址： | 201306 上海市中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供一种主动降噪调试方法、系统、电子设备及存储介质，涉及数据处理领域。一种主动降噪调试方法包括：获取待测产品的主动降噪功能的测试曲线，所述测试曲线表征所述主动降噪功能的降噪性能；基于预设的滤波器、预设的拟合函数及预设的约束非线性规划器，对所述测试曲线进行拟合，得到拟合结果，所述拟合结果包括对所述主动降噪功能进行调试的调试参数；基于所述调试参数对所述待测产品的主动降噪功能进行调试。通过使用预设的滤波器、预设的拟合函数及预设的约束非线性规划器，即可实现对待测产品的主动降噪功能的测试曲线进行拟合，得到拟合结果，由此，可以有效简化拟合主动降噪功能曲线的复杂程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 主动 调试 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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