[发明专利]一种基于透射式光路的多波长目标发射率分布特性测量装置有效

专利信息
申请号: 202210648426.2 申请日: 2022-06-09
公开(公告)号: CN114878000B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 安保林;董伟;祝晓轶;卢小丰;赵云龙;原遵东 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01N21/3563;G01N21/39
代理公司: 北京君琅知识产权代理有限公司 16017 代理人: 侯宁
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于透射式光路的多波长目标发射率分布特性测量装置,其包括:第一激光发生器,用于产生第一波长激光束;第二激光发生器,用于产生第二波长激光束;第三激光发生器,用于产生第三波长激光束;第一分束镜,对第一和第二波长激光束进行耦合;第二分束镜,用于确保测距激光和调制的第一、二、三波长激光同轴;从所述第三分束镜输出的激光进入到激光入射端;所述激光入射端用于调整激光输入的空间位置;采用螺杆步进空心电机将激光入射端连接到积分球体。本发明的装置在开展具有三维结构的待测样件发射分布测量时,可确保不同位置的投射光程相同;多波长共轴的设计使得该装置可开展不同波长下的发射率分布测量实现。
搜索关键词: 一种 基于 透射 式光路 波长 目标 发射 分布 特性 测量 装置
【主权项】:
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